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X-70 XRF 分析仪
许多应用程序的“经典”模型具有很大的价值。
完全重新设计的 X-70 是市场上性能高的 XRF，具有经济高效的 SDD 探测器。这款物有所值的 XRF 比 SciAps 更时尚的型号更强大，但仍然为其检测器平台提供分析性能和速度，运行速度是其他品牌的 2 倍或更高。 SciAps 强大的小型 X 射线管与高度的内部几何结构相结合，可产生快速、精确的结果。
X-70 非常适合过渡金属和重金属的基本分析。对于不需要测量 Mg、Al、Si、S 或 P 的用户来说，它是的选择。我们通过新的内部电路板、新的外壳和金属组件、较新的软件和用户界面以及全*面的重新校准重新设计了经典的探测器技术。我们还为其配备了更多功能，例如用于查看样本的内置高分辨率摄像头和用于照片记录或 2D/3D 条形码读取和存储的微距摄像头。
X射线管：40 kV，Rh阳极（合金）或50kV阳极（采矿、土壤、其他）
侦测率： 7 mm2 SDD，硅漂移探测器，（有源区域），170 Mn K-alpha 线处的 FWHM 分辨率为 5.95 eV
标准元件包
X-70* 的标准元件包如下表所示。需要其他元件吗？ 只是问问！ 我们经常为特定应用程序添加或替换元素。
| 实践应用 | 光束1(40kV) | 光束2(10 kV) | 光束3(50kv) |
| 采矿业 | K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、 Zn、As、Se、Rb、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、 Sb、S、Ta、W、Au、Hg、Pb、Bi、U | 无 | 无 |
| 土壤 | Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、 Se、Sr、Rb、Zr、Mo、W、TI、Hg、Pb、Bi、 Ag、Cd、Sn、Sb | 无 | 无 |
| 合金 | Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Se、 Y、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Hf、Re、Au、Pb、 Bi、Ru、Pd、Ag、Cd、锡、锑 | 无 | 无 |
| 贵金属 | Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、W、 Au、Ge、Ir、Pt、Au、Pb、Bi、Zr、Mo、Ru、 Rh、Pd、Ag、Cd、In、锡、锑 | 无 | 无 |
* 配备 50kV 管的 X-5 和 X-70 可用于特定应用
重量：
3.1 磅（含电池）
激发源：
合金上为 4 W、40kv Rh，其他应用上为 50kv Au。
校准：
基本参数。
尺寸：
9.38 英寸（238 毫米）x 11.15 英寸（283 毫米）x 3.34 英寸（84 毫米）
探测器：
7 mm2 SDD，硅漂移探测器，（有源区域），170 eV 分辨率 FWHMat 5.95 Mn K-alpha 系列。
校准检查：
用于校准验证和能量秤验证的外部 316 不锈钢检查标准。
电力：
板载可充电锂离子电池，可在设备内部或使用外部充电器充电，交流电源，热插拔能力（长 60 秒插拔时间）。
X 射线过滤：
适用于合金、采矿、贵金属的单主光束滤光片。适用于土壤、RoHS、汽车催化剂和其他一些应用程序的多个过滤器。
环境温度范围：
10% 占空比时 130°F 至 25°F
屏 显：
3.5 英寸（88.9 毫米）彩色电容式触摸屏 — 400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3D 图形加速器
处理电子主机处理器：
1.2 GHz 四核 ARM Cortex A53 64/32 位；内存：2 GB LP-DDR3；存储：16 GB eMMC（存储）。
安全性：
密码保护使用（用户级别）和内部设置（管理员）。
通讯/数据传输：
无线网络、蓝牙、USB。 连接到大多数设备，包括 SciAps Profile Builder PC 软件。
脉冲处理器：
12 位数字化速率为 80 MSPS 8K 通道 MCA USB 2.0，用于向主机处理器高速传输数据。在 FPGA 中实现的数字滤波可实现高吞吐量脉冲处理，峰值时间为 20 nS - 24 uS。
监管：
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