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精确测量残余奥氏体的含量，对于热处理过程的控制是意义重大的，X 射线衍射法是唯一可以测量残余奥氏体百分比含量
低至 0.5% 的方法，残余奥氏体的测量遵循 ASTM E975-03 国际标准。
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